Károlyi Gergely, Jakab László, Lénárt Ferenc
Egykapus mérési módszer szemcsés és folyékony anyagok komplex anyagparamétereinek meghatározására
A cikkben ismertetjük anyagok elektromos és mágneses anyagparamétereinek rádiófrekvenciás vizsgálatára kifejlesztett új mérési módszerünket (Complex Material Properties from Scalar data, CMPS). Részletesen bemutatjuk az egykapus eljárás alapelveit, majd mérési eredmények bemutatásával alátámasztjuk a módszer helyességét. A vizsgált anyagok komplex permittivitását és permeabilitását egyidejûleg lehet megkapni egy hálózatanalizátor és egy vezérlô, adatfeldolgozó szoftver segítségével. A méréshez tervezett koaxiális mintatartó kitûnôen alkalmas folyékony és finom szemcsés anyagok vizsgálatára. A bemutatott eljárás egyik különleges elônye, hogy a komplex mennyiségeket skalár adatokból lehet származtatni, ami lehetôvé teszi az algoritmus egyszerû, gazdaságos megvalósítását különbözô célalkalmazások esetén. Emellett a vizsgált minta hosszának, vagyis mennyiségének az elôzetes ismerete sem szükséges, ami tovább növeli a módszer alkalmazhatósági területeit.