Diószeghy Gy.—Holéczy Gy.—Bánki F.:
LSI áramkörök vizsgálati technológiájának néhány kérdése
A szerző röviden áttekinti az alkalmazható vizsgálati lehetőségeket (funkcionális ellenőrzés, hibadiagnosztika), kapcsolódásukat a gyártástechnológia igényeihez, a vizsgálatokhoz alkalmazható eszközöket, berendezéseket. Részletesebben foglalkozik egyes, a 8080 áramkör vizsgálatára kialakított célberendezésekkel, ezek programozási kérdéseivel, ismerteti a berendezésekkel eddig nyert tapasztalatokat.