Dr. Kemény Á. - Kalmár G.
TTL sorozatú SSI digitális integrált áramkörök
100 millió eszköz-órás megbízhatósági vizsgálatának
újabb eredményei.
II. rész — Vizsgálati eredmények és
azok hibafizikai interpretációja
Tárolásos, statikus és dinamikus elektromos terhelésű, 5...15 ezer órás és 70...200 °C közötti élettartam-vizsgálatok során bebizonyosodott, hogy a) az 55 °C-os átlagos üzemi körülményekre extrapolált hibásodási ráta 10-»...10~»/óra között .van, ami az ilyen ipari megbízható típuscsaládnál kellően kicsi; b) a hőmérsékleti aktiválási energia a felületi és kontaktus degradációnak megfelelően 1 eV körül van, de c) a korai kiesés szakaszában sokkal kisebb, gyaníthatóan 0,4 eV körüli érték, ami magyarázatot ad az irodalom eddig ellentmondó ilyen adatainak; d) 150 °C morzsahőmérséklet felett, néhány ezer óra után előtérbe kerülnek a termokompressziós kötések pestises és a fémezett összeköttetések szakadásos hibái, amelyek kifejezetten elhasználódásra utalnak.